食品用鋁箔紙鍍鋁層厚度/均勻度測試儀 DMT-E

由于真(zhen)空鍍(du)(du)鋁(lv)(lv)薄(bo)膜上的(de)(de)(de)鍍(du)(du)鋁(lv)(lv)層(ceng)(ceng)(ceng)非常薄(bo)，因此不能用(yong)常規的(de)(de)(de)測(ce)厚(hou)(hou)(hou)(hou)儀器檢(jian)測(ce)其厚(hou)(hou)(hou)(hou)度(du)(du)。由國家包裝產(chan)品質量(liang)監督檢(jian)驗中心(濟南)起草(cao)的(de)(de)(de)《 GB/T 15717-1995真(zhen)空金屬鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)厚(hou)(hou)(hou)(hou)度(du)(du)測(ce)試(shi)方法(fa)(fa)--電(dian)阻法(fa)(fa)》于1996年頒(ban)布，詳細介紹了(le)如(ru)何(he)檢(jian)測(ce)絕緣軟基材表面的(de)(de)(de)真(zhen)空金屬鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)厚(hou)(hou)(hou)(hou)度(du)(du)的(de)(de)(de)測(ce)試(shi)方法(fa)(fa)。電(dian)阻法(fa)(fa)檢(jian)測(ce)鍍(du)(du)鋁(lv)(lv)層(ceng)(ceng)(ceng)的(de)(de)(de)厚(hou)(hou)(hou)(hou)度(du)(du)用(yong)表面電(dian)阻來(lai)表示，單位是Ω/□，數(shu)值越(yue)(yue)大(da)說明鍍(du)(du)鋁(lv)(lv)層(ceng)(ceng)(ceng)厚(hou)(hou)(hou)(hou)度(du)(du)越(yue)(yue)薄(bo)，一(yi)般真(zhen)空鍍(du)(du)鋁(lv)(lv)薄(bo)膜的(de)(de)(de)表面電(dian)阻值為1.0－2.5Ω/□。

食品用鋁箔紙鍍鋁層厚度/均勻度測試儀 測試原理：
鋁是導電金屬，通過測試規定面積內試樣的電阻值，和一定溫度下的鋁的導電率，計算出試樣的鍍鋁層厚度。

 儀器試驗步驟
1.將金屬鍍層測量儀與試樣放置在GB2918規定的23±2℃.，45%-55%RH環境中放置4h后測量。
2.每次測量前用無水乙醇擦拭儀器的測量頭。
3.將試樣平放在測量儀的橡膠板上，使測量頭與金屬鍍層接觸良好。
4.每次測量前儀器必須校零。
5.測量試樣的電阻值。
測試的實驗結果自動顯示打印金屬鍍層的方塊電阻、金屬鍍層厚度和均勻度。

檢測產品

主要參數
厚度測量范圍：厚度50-570?   
方塊電阻測量范圍：0.5-10Ω
方塊電阻測量誤差：±1%
樣品尺寸：100×100mm
夾樣誤差：±0.1mm
測溫范圍：0～50℃，精度±1℃
外形尺寸：370mm×330mm×450mm （長寬高）
重量：19kg

更多(duo)詳情，那個咨詢(xun)濟南三泉(quan)中石(shi)業務部王(wang)海燕，，.