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方(fang)歐電(dian)阻(zu)測(ce)(ce)厚儀(yi)|真空(kong)鍍(du)鋁膜鍍(du)層厚度測(ce)(ce)試儀(yi)工(gong)作(zuo)原(yuan)理金屬鍍(du)層為一(yi)金屬導體，根據歐姆定(ding)律測(ce)(ce)量規定(ding)長度和寬度的(de)試樣的(de)電(dian)阻(zu)值，計算其方(fang)塊(kuai)電(dian)阻(zu)值，從而得(de)出鍍(du)層厚度。

電阻(zu)法(fa)(fa)真(zhen)空金(jin)屬鍍(du)層(ceng)厚(hou)度(du)(du)測(ce)試儀根據國家標準(zhun)GB/T 15717《真(zhen)空金(jin)屬鍍(du)層(ceng)厚(hou)度(du)(du)測(ce)試方法(fa)(fa)---電阻(zu)法(fa)(fa)》設計，可以測(ce)試非導電基材表面各(ge)種金(jin)屬鍍(du)層(ceng)的厚(hou)度(du)(du)。

金屬鍍層(ceng)測厚(hou)儀(yi)(yi)/鋁膜涂層(ceng)測厚(hou)儀(yi)(yi)根(gen)據(ju)國家標準GB/T 15717《真空金屬鍍層(ceng)厚(hou)度測試方法(fa)---電(dian)阻(zu)法(fa)》設計，可(ke)以測試非(fei)導電(dian)基(ji)材(cai)表面(mian)各種金屬鍍層(ceng)的厚(hou)度。

鍍(du)(du)鋁層(ceng)厚度(du)(du)測試(shi)儀符合BB/T0030《包裝用(yong)鍍(du)(du)鋁薄(bo)膜(mo)》中相關要求，其中鍍(du)(du)鋁薄(bo)膜(mo)鍍(du)(du)鋁層(ceng)厚度(du)(du)遵循GB/T15717中真空金屬鍍(du)(du)層(ceng)厚度(du)(du)測試(shi)方法（電阻法）中鍍(du)(du)厚度(du)(du)要求。