桶裝(zhuang)薯(shu)片包裝(zhuang)的鋁箔層厚度檢測(ce)(ce)方案三泉中石(shi)金屬鍍層測(ce)(ce)厚儀

摘要：塑料(liao)(liao)(liao)薄膜或(huo)紙(zhi)(zhi)張表面（單(dan)面或(huo)雙面）鍍上一層極薄的(de)金(jin)屬鋁(lv)即成(cheng)為鍍鋁(lv)薄膜，它廣(guang)泛(fan)地用來代替鋁(lv)箔(bo)復合材料(liao)(liao)(liao)如鋁(lv)箔(bo)/塑料(liao)(liao)(liao)、鋁(lv)箔(bo)/紙(zhi)(zhi)等使(shi)用。隨著科(ke)技的(de)發展真空蒸鍍金(jin)屬薄膜的(de)使(shi)用越來越廣(guang)泛(fan)，主要用于風味(wei)食品、農(nong)產品的(de)真空包裝，以及藥品、化(hua)妝品、香煙的(de)包裝。另外，鍍鋁(lv)薄膜也大量用作印刷中(zhong)的(de)燙金(jin)材料(liao)(liao)(liao)和商(shang)標(biao)標(biao)簽材料(liao)(liao)(liao)等。

關鍵詞：鍍鋁薄(bo)膜(mo) 鋁箔層厚(hou)度 金屬鍍層測(ce)厚(hou)儀

一(yi).意義：包裝中(zhong)的鋁箔層可(ke)以(yi)起(qi)到(dao)(dao)(dao)避光、防(fang)潮(chao)的作用，而鋁箔層的厚度(du)和均勻(yun)度(du)直接影(ying)(ying)響(xiang)(xiang)到(dao)(dao)(dao)其具備的優良(liang)性能，降(jiang)低(di)氣密性，減(jian)少保質期，從而影(ying)(ying)響(xiang)(xiang)到(dao)(dao)(dao)包裝內容物的產品(pin)質量，進而影(ying)(ying)響(xiang)(xiang)到(dao)(dao)(dao)產品(pin)的品(pin)質。

二.檢測方法：電阻法。根據R=ρL/S（R電阻(zu)、S截面(mian)積、L長度、ρ電阻(zu)率）可知L=RS/ρ，從而間(jian)接(jie)測出金屬鍍層(ceng)的厚度。

三.試驗樣品：桶裝薯片的外包裝

三泉中(zhong)石金屬鍍(du)層測厚(hou)儀(yi)檢(jian)測樣品

四.試驗設備(bei)：三(san)泉中石(shi)金(jin)屬鍍(du)層(ceng)測厚儀DMT-E

三泉中石金屬鍍層測(ce)厚儀DMT-E

五(wu).試驗過程：

1.將金屬鍍層測量儀與試樣放置在GB2918規定的23±2℃.，45%-55%RH環境中放置4h后測量。
2.每次測量前用無水乙醇擦拭儀器的測量頭。
3.將試樣平放在測量儀的橡膠板上，使測量頭與金屬鍍層接觸良好。
4.每次測量前儀器必須校零。
5.測量試樣的電阻值。

六.試驗結果：測(ce)試的實驗結果自動(dong)顯(xian)示打印(yin)金(jin)屬鍍層(ceng)的方塊(kuai)電阻(zu)、金(jin)屬鍍層(ceng)厚度和均勻度。

七.總結(jie)：由于真空鍍(du)鋁(lv)薄(bo)膜上的鍍(du)鋁(lv)層非常薄(bo)，因此(ci)不能用常規(gui)的測厚(hou)儀器檢測其厚(hou)度。數(shu)值(zhi)越大說明鍍(du)鋁(lv)層厚(hou)度越薄(bo)，一般真空鍍(du)鋁(lv)薄(bo)膜的表面電阻值(zhi)為1.0－2.5Ω/□。