金屬鍍層測厚儀(yi)-數據可追溯

金屬(shu)(shu)鍍(du)(du)層測(ce)厚(hou)(hou)儀是一種用(yong)于精確測(ce)量金屬(shu)(shu)鍍(du)(du)層厚(hou)(hou)度的(de)儀器，它對于鍍(du)(du)鋁(lv)膜、真(zhen)空鍍(du)(du)膜、鍍(du)(du)鋁(lv)紙等材料的(de)質量控制具有重(zhong)要意義。該儀器采用(yong)電(dian)阻法作為檢測(ce)原理(li)，通過(guo)測(ce)量電(dian)阻值的(de)變(bian)化(hua)來推算金屬(shu)(shu)鍍(du)(du)層的(de)厚(hou)(hou)度。

金屬鍍(du)層測(ce)(ce)厚儀主要由測(ce)(ce)量(liang)探(tan)頭(tou)、測(ce)(ce)量(liang)電(dian)路(lu)(lu)和(he)數(shu)據(ju)處理系統三部(bu)分(fen)組成。測(ce)(ce)量(liang)探(tan)頭(tou)通(tong)(tong)過與(yu)被測(ce)(ce)樣(yang)品表面接觸(chu)來(lai)獲取電(dian)阻值，其內(nei)部(bu)結構通(tong)(tong)常包括一對電(dian)極(ji)和(he)測(ce)(ce)量(liang)線路(lu)(lu)，用(yong)于測(ce)(ce)量(liang)樣(yang)品的電(dian)阻值。測(ce)(ce)量(liang)電(dian)路(lu)(lu)則將探(tan)頭(tou)測(ce)(ce)得的電(dian)阻值轉化為可讀的數(shu)據(ju)，并(bing)將其傳輸到數(shu)據(ju)處理系統進行處理。

在測(ce)量(liang)鍍(du)(du)(du)鋁(lv)膜、真空(kong)鍍(du)(du)(du)膜和鍍(du)(du)(du)鋁(lv)紙等(deng)材料時，金(jin)(jin)屬(shu)鍍(du)(du)(du)層(ceng)測(ce)厚(hou)(hou)儀能夠對其表面和底層(ceng)的電阻值(zhi)進行精確測(ce)量(liang)。由(you)于不(bu)(bu)同(tong)金(jin)(jin)屬(shu)材料的電阻率不(bu)(bu)同(tong)，因(yin)此(ci)可(ke)以通過測(ce)量(liang)電阻值(zhi)的變化來(lai)推算金(jin)(jin)屬(shu)鍍(du)(du)(du)層(ceng)的厚(hou)(hou)度。具體來(lai)說，金(jin)(jin)屬(shu)鍍(du)(du)(du)層(ceng)測(ce)厚(hou)(hou)儀會根據樣(yang)品的電阻值(zhi)變化來(lai)計算出金(jin)(jin)屬(shu)鍍(du)(du)(du)層(ceng)的厚(hou)(hou)度，并將結果(guo)以數字(zi)或圖(tu)表的形式顯示出來(lai)。

金(jin)屬鍍層測厚儀具(ju)有(you)高精度(du)(du)、高分辨率和高靈敏(min)度(du)(du)的(de)優點(dian)(dian)，能夠(gou)準確(que)地測量出(chu)金(jin)屬鍍層的(de)厚度(du)(du)，從而為生產廠家提供可靠的(de)質(zhi)量保(bao)證。同時，該儀器還具(ju)有(you)操(cao)作簡單(dan)、使用方(fang)便的(de)特點(dian)(dian)，能夠(gou)滿足工業(ye)生產中對快速、簡便測量的(de)需(xu)求。

金屬鍍層測(ce)(ce)厚(hou)儀的(de)優點(dian)還(huan)包括其非破壞性(xing)(xing)測(ce)(ce)量方式(shi)，即(ji)不會對被(bei)測(ce)(ce)樣品(pin)造成(cheng)損(sun)害。這使得生(sheng)(sheng)產廠家可以在生(sheng)(sheng)產過(guo)程(cheng)(cheng)中進行在線(xian)測(ce)(ce)量，及時(shi)發現并解(jie)決問題，大大提(ti)高了生(sheng)(sheng)產效率和產品(pin)質量。此外(wai)，金屬鍍層測(ce)(ce)厚(hou)儀還(huan)可以通過(guo)計算機接口實現數據(ju)共(gong)享和遠程(cheng)(cheng)控制，提(ti)高了測(ce)(ce)量的(de)自動化程(cheng)(cheng)度和便捷性(xing)(xing)。

金屬鍍層(ceng)測(ce)厚儀是一種高(gao)精度、高(gao)分辨率(lv)、高(gao)靈敏(min)度的(de)儀器，采用(yong)(yong)電阻(zu)法檢測(ce)原理，能夠準確地測(ce)量(liang)出鍍鋁(lv)(lv)膜(mo)、真(zhen)空鍍膜(mo)、鍍鋁(lv)(lv)紙等(deng)材(cai)料金屬鍍層(ceng)的(de)厚度。它具有操作簡單、使用(yong)(yong)方便(bian)和(he)非破壞(huai)性測(ce)量(liang)等(deng)優(you)點，適用(yong)(yong)于工業生產中(zhong)的(de)在線(xian)測(ce)量(liang)，能夠提高(gao)生產效率(lv)和(he)產品質量(liang)。

技術(shu)參數               

厚度測量范圍                   厚度50-570?    ;           

方塊(kuai)電阻測(ce)量范圍               0.5-5Ω      ;         

方(fang)塊電(dian)阻測量誤差(cha)               ±1%          ;     

樣(yang)品尺寸(cun)                       100×100mm               

夾樣精(jing)度                       ±0.1mm               

測溫范圍(wei)                       0～50℃，精度(du)±1℃               

外形尺(chi)寸                       370mm×330mm×450mm （長寬高(gao)）               

重    量                       19kg               

工作溫度                       23℃±2℃                

相(xiang)對(dui)濕度                       80%,無凝露               

工作電源(yuan)                       220V 50Hz

金屬鍍層測(ce)厚儀-數據可追(zhui)溯

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